CX-2500E成像辐照度测试系统

采用在成像辐照度测试系统前放置半透成像膜，光源照射到白色半透膜上，在半透膜后面形成光源照射的辐照度分布，成像辐照度测试系统拍摄照度分布，经计算处理得到照射面的辐照度分布。应用于镜头成像特殊光源、小型紫外、可见光、红外LED光源等辐照度分布测量，小功率激光光斑成像质量分析等。

技术指标：

波长测试范围                          330-1000nm

辐照度范围                             0.1uW/cm2-1000 mW/cm2（可定制）

辐照度精度             一级

测量尺寸              106*106（其他尺寸可定制）

成像分辨率           5120*5120

积分时间                                35us-10s

辐照度测量允许误差               ±8%

辐照度重复性（标准A光源下）0.8%

分辨率                                    0.1mW/cm2

供电与通讯                             USB3.0